Skaneeriv elektronmikroskoop (SEM) "Tescan SEM Vega II, mida on täiendatud Smaract positsioneerimissüsteemi ja Eestis valmistatud jõu sensoriga.
© FYYSIKA.EE
Skaneeriv elektronmikroskoop (SEM) "Tescan SEM Vega II, mida on täiendatud Smaract positsioneerimissüsteemi ja Eestis valmistatud jõu sensoriga.