JOONIS 38-17 Skaneeriva tunnelmikroskoobi (STM) tööpõhimõte. Kolme kvartsvarrast kasutatakse juhtiva teraviku skaneerimiseks mööda uuritavat pinda ja püsiva vahemaa säilitamiseks uuritava pinna ja teraviku vahel. Seetõttu liigub teravik üles-alla, et liikuda pinnakontuuriga kaasa, ning me saame taolise „kaardi,“ mida nägime selle peatüki avapildil.